INVENIO R

研究開発用FT-IR スペクトロメータ INVENIO R

INVENIO Rは、VERTEX 70の後継機種であり、要求の厳しい分析や研究開発の現場において、ユーザーの「発明」や「発見」を支援します。革新的なテクノロジーとインテリジェントかつエレガントなデザインは、次世代の FT-IRのスタンダードとなるものです。新たな光学系により、遠赤外から可視/紫外まで幅広いスペクトル領域を優れたSN比でカバーしつつ、高度な構成の実験にも対応できる極めて高い柔軟性を実現しています。オプションの一体型タッチパネルを使用することで、さらにシンプルなワークフローと快適な操作環境が得られます。独自の先進技術 MultiTectTM 検出器テクノロジーでは、最大5台の室温動作型検出器をサポートします。さらに DigiTectTM 検出器スロットと、迅速な中赤外スペクトル測定を可能にするTransitTM チャンネルを合わせると、合計で最大7台の内蔵検出器を駆使することができるため、日々の分析の作業効率が大幅に向上します。

 INVENIO Rの特徴

  • 実験スペースを有効に活用できるコンパクト設計
  • 乾燥密閉型光学ベンチ(パージ可能)
  • ビームスプリッターの交換が容易なアライメントフリー/摩耗ゼロ干渉計 RockSolid?
  • ソフトウェア制御式、光入出力ポート(出力x3、入力x2)
  • 測定および解析用 OPUS ソフトウェア
  • ユーザーフレンドリーな操作環境のOPUS-TOUCH R&D ソフトウェア+タッチパネルPCオプション
  • LED ライトバーによる洗練されたステータス表示
  • 5 台の検出器に対応する MultiTect? テクノロジー
  • ユーザーによる交換が可能な DigiTect? 検出器スロット
  • 透過測定専用 TransitTM チャンネル(DTGS 検出器装備)
  • 24 ビットダイナミックレンジ、デュアルチャンネルADCによるフルデジタル信号処理
  • 6000cm-1から80cm-1まで一度の測定でカバーするBruker FMテクノロジー
  • 近赤外、遠赤外、紫外可視域へのアップグレードも容易
  • 各種変調測定と時間分解測定を実現するラピッドスキャン、スロースキャン、ステップスキャン機能
  • すべての VERTEX 用アクセサリと外付けモジュールとの互換性を継承
  • 試料室バイパス/ダイレクトエミッション光路オプション
  • 簡単操作で脱着が可能な試料室カバー
  • 一体型タッチパネル

    研究開発における標準的な作業をこなすための一体型タッチパネルをオプションで提供します。このタッチパネルは左右に動くだけではなく2 つの軸を中心に傾けることもできます。パネル PC にインストールされた専用のOPUS-TOUCH R&D ソフトウェアが、よりシンプルなワークフローと直観的な操作を可能にします。複雑なデータ処理や解析を必要とする場合には、デスクトップ PC の接続も可能です。

    Transit TM 測定チャンネル

    INVENIO は、中赤外領域の透過測定に対応する第2試料室 TransitTM チャンネルの増設が可能です。メインの試料室に複雑な測定光学系がセットされている場合でも、その状態を崩すことなく透過測定をすぐに行うことができます。専用の DTGS 検出器を備える TransitTM チャンネルでは、ペレットホルダーやマグネット式フィルムホルダー、あるいは市販の液体セルなど、標準的な透過測定用アクセサリの多くが利用可能です。MultiTectTM とDigiTectTM 検出器を合わせると、INVENIO は最大 7 台の検出器を本体内部に設置することができ、これらはすべてソフトウェアによる選択・切替が可能です。

    光源オプション

    INVENIO は最大 4 本の光源(分光計内部 2、外部2)を同時に装備することが可能で、ソフトウェアによる切り替えで紫外可視から遠赤外領域までを完全にカバーします。CenterGlowTM テクノロジーを新たに採用した標準装備の中赤外光源は、高い輝度と長期安定性が特長です。また分光計の右側面あるいは背面の入力ポートを使うことで、外部光を干渉計に導入することができます。いずれの場合も外部光はアパーチャー(Jacquinotstop)とフィルターホイールを経由します。この光学配置は発光測定や光源特性評価測定を高分解能で行う際に非常に重要となります。

    次世代の研究開発用分光計

    革新的なデザインによる INVENIO R は、数多くの優れた機能を有し、試料室用アクセサリの交換作業を容易にする改良型 QuickLock 機構、光学窓および試料ホルダーの自動認識機構、バリデーション用フィルターおよびカスタムフィルターの装着が可能な 8 ポジションフィルターホイール、入射光量を最適化する 5 段階アテネーターホイールなどを装備しています。また専用 CPU を内蔵する電子回路ユニットは極めて高性能で、次世代のアプリケーションを見据えた設計により、さまざまなオプションに対応します。さらに INVENIO R の光学系は波数域の拡張性にも優れ、光源、ビームスプリッター、検出器など、必要となる光学部品を追加するだけで、複数の異なる波数領域の測定に対応することが可能です。高い機能性と優れた拡張性をもつ INVENIO は、次世代のインテリジェントな研究開発用 FT-IR 分光計の新機軸となるものです。

    Learn more

     JASISでINVENIOをご紹介した新技術説明会の資料について
    JASISの新技術説明会でINVENIOをご紹介した資料は、こちらからダウンロードできます。
    ※ 10月26日までの期間限定になります。

     

    topへ戻る

    ブルカーのFT-IR、FT-NIR、ラマン製品等に関するお問合せ

    カタログ請求・お問合せ

      カタログ請求

    サポート・修理窓口

      サポート・修理窓口